GaAs-Photokathoden-Epitaxialwafer

GaAs Photocathode Epitaxial Wafer

GaAs-Photokathoden-Epitaxialwafer

Der Photokathoden-Epitaxiewafer basiert auf dem epitaktischen Wachstum von AlGaAs/GaAs/AlGaAs auf einem GaAs-Substrat, das ein wichtiges Material für den mikrooptischen Verstärker der dritten Generation ist. Die Detektoreinheit aus GaAs-Fotokathodenwafer kann schnell auf nahes Infrarotlicht ansprechen und wird im Bereich der Schwachlicht-Nachtsicht weit verbreitet verwendet.III-V-Epi-Wafer for photocathode material provided by Ganwafer is grown on GaAs substrate with protective films.

1. Spezifikation von GaAs-Epitaxialwafern fürPhotokathode

1.1 GaAs-Photocathode Structure with Buffer Layer AlxGa1-xAs

Application: Used to serve as a part of photoelectronic devices for fast processes registering.
Working temperature: -30°C – +50°C
Growth technique: gaseous-phase epitaxy from organometallic compound

4inch GaAs-Photocathode Structure(GANW190213-GaAs)

Epi-Schicht Material Dotierstoff Dopingkonzentration Dicke Note
Covering layer Water-dilutable - -
Antireflection coating SiO - -
Interlayer Al0.7Ga0.3As p-type Zn doping - - 0.01 um
Buffer layer AlxGa1-xAs p-type Zn doping 1.0X1018 cm-3 - - Concentration x smoothly changes from 0 to 0,7  (Al concentration grows with the growing distance from the active layer)
Active layer GaAs p-type Zn doping - - - -
Stopping layer Al0.7Ga0.3As p-type Zn doping - - 1 um
GaAs n-type substrate Si-doping (1÷4)X1018 cm-3 450±25um
Covering layer Water-dilutable - -
Layer structure tolerance ±5%

Doping level tolerance ±30%

Layer thickness tolerance ±10%

 

1.2 GaAs Photocathode Epitaxial Heterostructure

50-mm-GaAs-Fotokathoden-Epi-Wafer mit Schutzschichten(GANW200311-GAAS)
Epi-Schicht Material Ladungsträgerkonzentration Dicke
1 wasserlösliche Schutzschicht - - 1 & mgr; m
2 SiO - - - -
3 p-Al(0,6)Ga(0,4)As:Zn - - - -
4 p+ – GaAs:Zn - - - -
5 p-Al(0,6)Ga(0,4)As:Zn - - - -
6 Wafer n-GaAs:Si (1÷4)*1018 cm-3 500 um
7 wasserlösliche Schutzschicht 1 & mgr; m
Note: a. Deviation of layer thickness is +/-10%;

b. Das Material des Schutzfilms ist eine SiN-Passivierungsschicht.

 

2. Über die GaAs-Fotokathode

Die früheste und ausgereiftere Halbleiter-Fotokathode der Gruppe III-V ist eine Fotokathode auf der Basis eines GaAs-Substrats, und der spektrale Empfindlichkeitsbereich der GaAs-Fotokathode liegt im Bereich des sichtbaren Lichts von 400–1000 nm, der hauptsächlich auf dem Gebiet der Schwachlichtdetektion verwendet wird. Da die GaAs-Epitaxie-Fotokathode die Eigenschaften eines breiten Antwortbandes hat, gibt es Probleme, wie z. B. ein großes Antwortrauschen und die Unfähigkeit der Verwendung bei jedem Wetter bei der Anwendung von Schmalband-Antwortfeldern, wie z. B. Ozeandetektion. Aufgrund der Beschränkungen des Feldes wird eine GaAlAs-Photokathode mit einstellbarer Al-Zusammensetzung vorgeschlagen, um sie für blaugrünes Licht empfindlich zu machen.

Die auf einem GaAs-Wafer hergestellte Fotokathode ist bei weitem die am weitesten verbreitete Fotokathode auf dem Gebiet der Nachtsicht bei schwachem Licht. Die Quanteneffizienz (QE) der GaAs-Fotokathode ist hoch, und die Dunkelemission ist gering. Darüber hinaus gibt es viele Vorteile. Die Energieverteilung und die Winkelverteilung der emittierten Elektronen sind konzentriert, das Langwellenventil ist einstellbar und das Expansionspotential der Langwellenantwort ist groß.

3. Aktivierung der GaAs-Photokathode

GaAs-basierte Photokathoden-Epitaxialwafer sind die erste Wahl für die Erzeugung von spinpolarisierten Elektronenstrahlen mit hoher Helligkeit, hoher Polarisation und schneller Polarisationsinversion. Aufgrund der hohen Reaktivität der emittierenden Oberfläche hat sie jedoch eine sehr kurze Lebensdauer, was zu Betriebsschwierigkeiten führt. Forscher verwenden Materialien wie Cs2Te mit mehr Härte, um GaAs zu aktivieren. Dieses Verfahren zeigt eine der Cs-O-Aktivierung vergleichbare Polarisation und erhöht die Lebensdauer aufgrund der Festigkeit der Cs2Te-Schicht.

Es wird berichtet, dass die Photokathoden-QE basierend auf Cs-Te-Aktivierung auf GaAs-Material niedriger ist als die auf Cs-O aktivierte. In Bezug auf die Cs-Te-Aktivierung beträgt die QE der Photokathode 6,6 % bei einer Wellenlänge von 532 nm, während die QE bei 532 nm bzw. 780 nm etwa 8,8 % und 4,5 % durch die Cs-O-Te-Aktivierung beträgt. Es ist offensichtlich, dass eine höhere Quanteneffizienz und eine längere Lebensdauer einer GaAs-Photokathode mit negativer Elektronenaffinität durch eine Cs-O-Te-Lösung erhalten werden kann.

Für weitere Informationen kontaktieren Sie uns bitte per E-Mail unter sales@ganwafer.com und tech@ganwafer.com.

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