Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid (InGaAsP)-Dünnfilm

indium gallium arsenide phosphide wafer

Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid (InGaAsP)-Dünnfilm

Das Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid (GalnAsP)-Halbleitermaterial aus einer quaternären Legierung, das mit einem Einkristall-Substratgitter aus Indiumphosphid (InP) abgestimmt ist, hat einen einstellbaren Bandlückenbereich von 0,75 bis 1,35 eV. Da die Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid-Energielücke die verlustarmen Bänder von 1,33 um und 1,55 um für die Quarzfaser-Signalübertragung in der aktuellen optischen Kommunikation abdeckt, wird sie häufig in der Struktur von Indiumphosphid-Bipolartransistoren mit heterogenem Übergang, Oberflächenemissionslasern mit vertikalem Hohlraum und verwendet andere optoelektronische Geräte. Ganwafer kann liefernIII-V-Epitaxialwafervon InP/InGaAsP und wachsen kundenspezifische Struktur. Spezifische Strukturen sind wie folgt:

1. Spezifikationen des Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid-Wafers

Nr. 1 InP-basierter InGaAsP-Wafer

GANW190513-INGAASP

Epi-Schicht Material Dotierstoff Dicke
Epischicht 7 InP undotiert - -
Epi-Schicht 6g InGaAsP - - 75nm - -
Epi-Schicht 6f InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6e InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6d InGaAsP - - - - gitterangepasst, emittiert bei 1275 nm
Epi-Schicht 6c InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6b InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6a InGaAsP - - - - - -
Epischicht 5 InP - - - -
Epi-Schicht 4g InGaAsP - - 75nm - -
Epi-Schicht 4f InGaAsP undotiert - - - -
Epi-Schicht 4e InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4d InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4c InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4b InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4a InGaAsP - - - - gitterangepasst, emittiert bei 1000 nm
Epi-Schicht 3 InP - - - -
Epi-Schicht 2g InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2f InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2e InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2d InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2c InGaAsP - - 10nm - -
Epi-Schicht 2b InGaAsP - - - -
Epi-Schicht 2a InGaAsP undotiert - - gitterangepasst, emittiert bei 1000 nm
Epi-Schicht 1 InP undotiert 300nm
Substrat InP:S[100], Nc = (3-8)E18/cc, EPD < 5000/cm2

 

Nr. 2 InGaAsP / InP-Epiwafer

GANW190709-InGAASP

Epi-Schicht Material Dotierstoff Dicke
Epischicht 7 InP undotiert - -
Epi-Schicht 6g InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6f InGaAsP - - 5 nm - -
Epi-Schicht 6e InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6d InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6c InGaAsP - - - - gitterangepasst, emittiert bei 1040 nm
Epi-Schicht 6b InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 6a InGaAsP - - - - - -
Epischicht 5 InAlAs - - - -
Epi-Schicht 4g InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4f InGaAsP undotiert 5 nm - -
Epi-Schicht 4e InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4d InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4c InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 4b InGaAsP - - - - gitterangepasst, emittiert bei 1350 nm
Epi-Schicht 4a InGaAsP - - 75nm - -
Epi-Schicht 3 InAlAs - - - -
Epi-Schicht 2g InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2f InGaAsP - - 5 nm - -
Epi-Schicht 2e InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2d InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2c InGaAsP - - - - - -
Epi-Schicht 2b InGaAsP - - - -
Epi-Schicht 2a InGaAsP undotiert - - gitterangepasst, emittiert bei 1040 nm
Epi-Schicht 1 InP undotiert 300nm
Substrat InP:S[100], Nc = (3-8)E18/cc, EPD < 5000/cm2

 

Nr. 3 InGaAsP-Quantentopfstruktur

GANW190527-INGAASP

Epi-Schicht Material Dotierstoff Dicke
Epischicht 11 n-InP-Deckschicht Si - -
Epischicht 10 n-1,24Q InGaAsP, Delta-Dotierung - - - -
Epischicht 9 i-1.24Q InGaAsP - - - -
Epi-Schicht 8 1,30 Q (-0,5 %) InGaAsP-Barriere - - - - λc = 1,55 um
Epischicht 7 1,65 Q (+0,8 %) InGaAsP gut - - - -
Epi-Schicht 6 1,30 Q (-0,5 %) InGaAsP-Barriere - - - -
Epischicht 5 i-1.24Q InGaAsP - - 300A
Epi-Schicht 4 p-1,24Q InGaAsP Zn - -
Epi-Schicht 3 p-InP-Opferschicht - - - -
Epi-layer 2 p-InGaAs-Ätzstoppschicht - - 0,4 um
Epi-Schicht 1 p-Puffer InP - - - -
Substrat p-InP

 

2. FAQ von InGaAsP-Wafern

F1:Ich habe eine technische Frage:

Wissen Sie, ob InGaAsP mit einer Bandlücke von 950 nm gegen konzentrierte HCl (Salzsäure) beständig ist?

A: Die Korrosion für Indium-Gallium-Arsenid-Phosphid-Kristallwafer kann unwiderstehlich sein, aber die Korrosionsrate sollte langsamer sein.

F2:Ich habe Ihren InGaAsP-Wafer mit FWHM 54,5 nm erhalten (siehe Anhang). Ist es möglich, InGaAsP-Wafer mit schmalerer FWHM (weniger als 54,5 nm) bereitzustellen? Möglich bis 30nm? Oder 20nm?

FWHM of InGaAsP Wafer

A: Es ist kein Problem für die Herstellung von GaInAsP-Epi-Wafern mit FWHM <54,5 nm, und was wir garantieren können, ist nahe 30 nm.

Q3:Ich habe Ihre InGaAsP-Heterostruktur sowie andere Wafer verwendet, um eine lichtemittierende Quelle aus Nanomaterial herzustellen. Verglichen mit dem Gerät, das aus einem InGaAsP-Wafer eines anderen Unternehmens hergestellt wurde, zeigte sich bei dem auf Ihrem Wafer basierenden Gerät, dass die durchschnittliche Spannung niedrig war, obwohl es mehr Leistung brachte (35 vs. 350 μW).

Könnten Sie uns bitte eine Erklärung/Meinung zum Ergebnis des Vergleichstests geben?

A: Der Unterschied der GaInAsP-Epitaxie auf InP vom P-Typ kann auf den Unterschied der Dotierungskonzentration zwischen dem P-Typ und dem N-Typ zurückzuführen sein. Wir richten uns nach der Konzentration Ihrer Anforderungen. Es ist klar, dass die Dotierungskonzentration zu hoch ist, der optische Absorptionsverlust sehr groß ist, kein strukturelles Problem. PL kann viel stärker sein, wenn der Dotierungspunkt niedriger ist. Dieses Phänomen hängt offensichtlich mit Doping zusammen.

Für weitere Informationen kontaktieren Sie uns bitte per E-Mail untersales@ganwafer.com und tech@ganwafer.com.

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